SENTECH SE500adv CER Ellipsometer 단파장 + 리플렉토미터 (Advanced Combined Ellipsometery Reflectometer)

SENTECH SE400adv 단파장 엘립소미터 (Advanced Ellipsometery)

SENTECH SENresearch_ R&D 및 범용 엘립소미터

Ellipsometric 원리를 이용하여, Nano ~ Miro 사이즈의 thin layer 의 두께를 측정하는 장비

SENDIRA_ IR (FT-IR Source)은 광범위한 분광 영역 190nm ~ 3,500nm 을 다양한 물질의 두께를 측정할 수 있다.

SENTECH SENDURO_ 자동 맵핑 엘립소미터