SENTECH SE500adv CER Ellipsometer 단파장 + 리플렉토미터 (Advanced Combined Ellipsometery Reflectometer)
SENTECH SE400adv 단파장 엘립소미터 (Advanced Ellipsometery)
SENTECH SENresearch_ R&D 및 범용 엘립소미터
Ellipsometric 원리를 이용하여, Nano ~ Miro 사이즈의 thin layer 의 두께를 측정하는 장비
SENDIRA_ IR (FT-IR Source)은 광범위한 분광 영역 190nm ~ 3,500nm 을 다양한 물질의 두께를 측정할 수 있다.
SENTECH SENDURO_ 자동 맵핑 엘립소미터
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