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전자현미경 시료전처리
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번호 제품이미지 제품명
19 [ Leica EM RES102 ] 다목적 이온빔 밀링 시스템 인기글 첨부파일

여러 샘플 홀더를 사용하여 각종 다양한 애플리케이션이 수행 될 수있으며, 하나의 Bench-top 장비에서 TEM, SEM 및 LM 시료 전처리 기능이 결합된 유일한 이온빔 밀링 시스템 입니다.

18 [ Leica EM TXP ] 표적 표면 처리 시스템 인기글 첨부파일

Leica EM TXP는 Ion beam milling system 사용 전 사전에 Target sample 의 Milling, Sawing, Grinding, Polishing을 위한 Unique 한 Target surface 전 처리 장비 입니다.

17 [ Leica EM TIC 3X ] 이온빔 밀링 시스템 인기글 첨부파일

EM TIC 3X 는 SEM/AFM 시료 전처리를 위한 초 정밀 Triple Ion Beam Milling system 이며, Ion milling 시 Ion beam 에 의한 sample 손상방지 및 작업 속도를 획기적으로 개선할 수 있는 유일한 Solution 입니다.

16 [ Leica ARTOS 3D ] 전자동 고품질 연속 초박 절편 장비 인기글 첨부파일

ARTOS 3D 초박 절편기로 일관된 Array tomography를 위한 초박 연속 절편 제작 시간을 단축할 수 있습니다

15 [ Leica EM UC7 ] 전자동 다목적 초박 절편 장비 인기글 첨부파일

초박절편 제작장비(Ultramicrotome)인 Leica EM UC7은 TEM, SEM, AFM 및 LM 조사를 위해 생물/산업체 시료를 완벽하고 매끄러운 표면으로 준비 할 수 있을 뿐만 아니라, 준초박절편(Semi-thin section) 및 초박절편(Ultrathin secion) 제작이 용이합니다.

14 [ Leica EM FC7 ] 초저온 챔버 인기글 첨부파일

TEM, SEM, AFM 및 LM 관찰을 위한 극저온 절편(-15~-185°C)을 준비해야 한다면, Cryochamber Leica EM FC7을 Ultramicrotome Leica EM UC6 또는 Leica EM UC7에 장착하여 Cryoultramicrotome으로 바꾸세요.

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