SENTECH SENresearch_ R&D 및 범용 엘립소미터

Ellipsometric 원리를 이용하여, Nano ~ Miro 사이즈의 thin layer 의 두께를 측정하는 장비

SENDIRA_ IR (FT-IR Source)은 광범위한 분광 영역 1,700nm ~ 25,000nm을 다양한 물질의 두께를 측정할 수 있다.

SENTECH SENDURO_ 자동박막측정기 (엘립소미터)

SpectraRay4 소프트웨어